该仪器大范围的应用于集成电路制造中的硅片电阻率监控、太阳能电池板的薄膜导电层检测、OLED显示屏的透明电极测试、锂电池极片涂层均匀性分析等场景。

  漆包线在电机、变压器、电抗器、电感、电磁阀、继电器线圈以及各类电磁绕组中都是基础材料。它的结构并不复杂：里面是铜导体或者铝导体，外面包覆一层或者多层绝缘漆膜。漆膜负责绝缘，导体负责导电。电机能不能按设计输出转矩、变压器空载损耗和负载损耗是否落在允许范围、绕组温升会不会超出绝缘等级的承担接受的能力，很大程度上取决于导体电阻这项基础指标。

  导体电阻偏大，绕组通电后的铜损随之增加，发热量上升，温升被抬高。绝缘漆膜长期处在偏高的温度下会加速老化，漆膜发脆、开裂，击穿电压下降，之后也许会出现匝间短路。导体电阻偏小，往往意味着线径比图纸要求更粗，用铜量上升，成本被推高；同时槽满率变差，绕线时排线困难，还可能因为局部尺寸超差而装不进定子槽。因此无论是漆包线生产厂的出厂检验，还是电机、变压器厂对进厂原材料的验收，直流电阻都是一项要按批、按盘、按米数反复核对的指标。

  造成漆包线导体电阻偏离的原因有不少。拉丝工序中模具磨损会让线径逐渐走大或者走小，润滑状态与拉伸速度变化会让截面积沿长度方向出现波动；退火工序的温度与走线速度不匹配，铜导体的结晶状态发生明显的变化，电阻率随之偏离标准值；铜材本身含氧量偏高或者含有杂质，电阻率也会偏高；生产的全部过程中的接头如果焊接不良，焊接处的截面积变化以及氧化层残留都会引入额外电阻；存放环境潮湿，线盘长期暴露在含硫气氛中，导体表面氧化或者硫化，同样会影响测量结果。

  这些偏差如果只靠抽检外观和线径判断，往往看不出来。线径用千分尺量的是局部点，电阻反映的则是整段导体的综合状况，包括截面积、材质电阻率与内部缺陷。所以电阻测量在这类材料的质量控制中具备无法替代的位置，而要把这项指标测准，前提是要有一台量程合适、分辨率足够、并且能有效排除接触电阻与引线电阻干扰的电阻测试仪。

  围绕这个需求，可以胜任的仪器并不只是单一的一类。漆包线成品与绕制完成的线圈，用开尔文四端测试方式直接测直流电阻；漆包线用裸导体、导电薄膜、金属涂层、半导体片料，则用四探针方式测试电阻与电阻率；薄膜类试样还要测方块电阻。把这几类测量集中在一台设备上，配上不同的测试治具就能覆盖，这正是本次要解读的这台机型的设计出发点。

  测量电阻这件事看起来简单，做起来要分场合。被测电阻在欧姆级以上时，两线制的引线电阻和接触电阻在总电阻中占比不大，误差可忽略。被测电阻降到毫欧级、微欧级时，情况就变了：测试线本身的电阻、夹子与被测件之间的接触电阻，动辄几个毫欧甚至几十个毫欧，量级上已经和被测对象本身相当，测量结果会被明显抬高。

  解决的办法是把供电与取样分开，这就是四端法，也就是通常说的开尔文接线方式。电流从一对端子流过被测件，电压从另一对端子取出。电压端的输入阻抗很高，几乎不取电流，因此这一路上接触电阻和引线电阻上的压降不被计入测量结果。测试夹做成开尔文夹的形式，两个触点彼此绝缘、各自引出，夹持被测件时正好形成四端连接。测漆包线导体、测电阻器的直流电阻，用的都是这套方式。资料中也明确写到，四端测试法是针对高精度要求产品的一种测试方法，本仪器可用开尔文测试夹直接测试电阻器的直流电阻。

  针对片状与块状材料，还有四探针方式。四根探针按一定间距排成一列压在材料表面，外侧两根通电流，内侧两根取电压。这种布置让电流在材料内部扩散形成一定的分布，通过测得的电压与电流、结合探针间距和试样厚度，就能推算出材料的电阻率；当试样厚度远小于探针间距时，测得的量可以直接换算成方块电阻。四探针的价值在于探针与材料之间的接触电阻、以及探针下方材料自身的扩散电阻都通过电压取样被排除掉，对薄膜、涂层这类厚度很薄的试样尤其必要。探头有直排和矩形两种，直排适合常规片料，矩形适合需要按特定方向、特定间距布置的试样，具体选用取决于被测材料与所依据的标准要求。

  这台机器还引入了双电测的测量模式。做法是在测量过程中自动进行电流换向，在正向电流与反向电流两种条件下各测一次电阻率或者方块电阻，之后显示两次结果的平均值。换向的用处在于抵消热电动势与寄生电势。探针与材料接触处如果存在温差，就会产生热电动势，叠加在测量电压上形成固定方向的偏置；电流换向之后，这个偏置在两次测量中的符号相反，取平均即可有效削减。材料自身的不均匀、局部温漂带来的影响也能随之减轻。这就是双电测能在高精度测量中提升稳定性的原因。

  恒流源部分是测量回路中另一个要点。电流量程为 DC100mA-1A，仪器上配有恒流源开关。使用时的顺序是先把探针头压触在被测材料上，之后打开恒流源开关，这样做才能够让接触瞬间不产生打火，既保护被测件表面，也保护探针。如果探针带电压触到单晶之类的材料，对材料和测量结果都不构成影响，那么为了更好的提高效率，恒流源开关可以从始至终保持在开的状态。这个开关要不要关，取决于被测件的敏感程度，操作者按真实的情况决定即可。

  漆包线与绕组线方向的依据，主要有 GB/T 6109 系列（漆包圆绕组线，含一般规定及按耐热等级规划区分的各分册，其中对导体直流电阻提出了明确要求）、GB/T 4074 系列（绕组线试验方法，其电气性能部分规定了电阻试验的取样、试样制备与测量条件）、IEC 60851-5（绕组线试验方法 电气性能，与国际通行做法相对应）。这几项标准构成了漆包线导体电阻测量的基本框架。

  电线电缆与导体方向的依据，有 GB/T 3048.4（电线电缆电性能试验方法 导体直流电阻试验），用于导体直流电阻试验的环境条件、试样长度与测量方式规定，漆包线用裸导体的电阻测试也可以参照其规定的条件组织。

  半导体材料、导电薄膜与涂层方向的依据，有 GB/T 1551（硅单晶电阻率的测定，直流四探针法等内容）、GB/T 1552（硅、锗单晶电阻率测定 直流四探针法）、GB/T 6616（半导体硅片电阻率与厚度测量相关方法），以及 ASTM F84（片电阻测量方法，针对硅片）等。用于金属涂层、导电薄膜的方块电阻测量时，可结合材料所属行业标准中对表面电阻、方阻的限定来组织试验。

  需要提醒的是，上述标准编号对应的是通常引用的版本，实际开展试验前应核对标准当前生效的版本号及其规定的试验环境、试样尺寸与判据，按现行文本执行。标准号属于技术是依据，与厂商标识无关，本设备的测量条件应与所引用标准的要求匹配。

  漆包线导体电阻通常用每千米电阻值来表示，写成 Ω/km 的形式，也有用每米电阻值的场合。两种表达之间是千进位关系，1 Ω/m 等于 1000 Ω/km。车间里常用的换算还包括由电阻反推线径合不合格：导体电阻与长度成正比、与截面积成反比，写成公式就是 R 等于电阻率乘以长度再除以截面积。导体的电阻率由材质决定，铜大约是 0.0172 Ω·mm²/m（20℃ 条件），铝大约是 0.0283 Ω·mm²/m（20℃ 条件），取值时应以所用标准的规定为准。

  由于金属电阻随气温变化，行业里约定把测量结果折算到 20℃ 再作比较。铜导体的折算关系是 R20 等于 Rt 乘以 254.5 除以 234.5 加 t，其中 t 为测量时的导体温度，单位为摄氏度；铝导体的折算关系是 R20 等于 Rt 乘以 248 除以 228 加 t。换算系数也可以从温度系数看出量级：铜在 20℃ 附近的电阻温度系数约为 0.00393 每摄氏度，也就是温度每升高 1℃，电阻大约增加 0.39%。在一条长度足够的漆包线试样上，若测量温度与 20℃ 相差十几度而没有折算，偏差会明显超出测量仪器自身的误差。这就是本机设置温度补偿功能的用处：修正被测材料温漂带来的测试结果偏差，让读数尽量落在规定要求的基准温度上。

  薄膜与片状试样的测量还有一层换算关系。方块电阻只与材料性质有关，与方形试样的边长无关，单位为 Ω/□；把它乘以试样厚度，就得到体积电阻率，单位为 Ω·cm。因此测薄片时厚度是否准确，直接决定电阻率结果可不可靠。本机支持厚度预设，自动修正样品的电阻率，无需查表即可计算出电阻率，正是为减少这道人工换算带来的差错。资料中还写到测薄片时可自动进行厚度修正，做法一致。

  单位自动换算也是这个环节的一部分。屏幕上可以同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值与温度，单位自动换算，液晶显示无需人工计算。对于既要看 Ω 又要看 Ω·cm、还要看 Ω/□ 的场合，这一点能省去不少换算与复核的工作量。电导率单位还可自动选择，电导率与电阻率互为倒数，读数方向相反，规范的做法是测完先看电阻率再换算电导率，避免在单位之间反复折算造成混乱。

  设备采用 4.3 寸大液晶屏幕显示，显示内容可以同时包括电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度与自动换算的单位，操作界面提供中文或英文两种语言选择，方便国内用户与国外用户使用。屏幕亮度较高、显示清晰，靠近工位观察不费力，这几项都属于日常使用中容易被忽视、但真正影响效率的部分。

  参数设置方面，基本设置简单易操作，方阻、电阻、电阻率、电导率与分选结果能多种参数同时显示。分选判断的灯直接亮在面板上，不需要盯着屏幕看结果，作业效率因此得以提高。比较器提供三档分选功能，即超上限、合格、超下限，可对被测件进行 HI（超上限）与 LOW（超下限）判断，判定结果直接在屏幕上以标志显示，也能够最终靠 USB 接口、RS232 接口输出更为详细的分选结果，便于接自动化设备或者接到产线数据系统里。

  测试模式上有两种走法：可以连接电脑测试，也可以不连接电脑单机测试。单机模式下不需要额外配置，开机标定之后即可测量；联机模式下配合电脑使用，通过标配的 RS232、LAN、IO、通讯接口建立通讯。资料中提到的软件功能属于选配项，软件可以记录、保存各点的测试数据，供用户对数据来进行各种分析。对需要出具报告、追溯批次数据或者做趋势分析的用户，这一项比较实用。

  校准环节提供手动或自动两种选择。可手动或自动选择测试量程，全量程自动清零。自动清零的意义在于把测试线路与夹具的残余电阻、残余电势在测量之前归零，避免它们叠加到读数上；量程切换则要按被测值的大小选择，量程过大量程档的读数有效位数不足，量程过小可能超出量程范围或者让恒流源工作状态偏离线性区。

  电流换向：自动进行电流换向，并进行正反向电流下的电阻率（或方块电阻）测量，显示平均值；测薄片时可自动进行厚度修正

  分选功能：3 档分选，超上限、合格、超下限，可对被测件进行 HI／LOW 判断，并在屏幕上以标志显示，也可通过 USB 接口、RS232 接口输出更为详细的分选结果

  适用范围：四探针治具测试片状或块状半导体材料、金属涂层以及导电薄膜等材料的电阻和电阻率；开尔文测试夹直接测试电阻器直流电阻

  关于数据口径的一点提示：资料在仪器概述部分另标注有“精度 2%”一项，与前述电阻基本准确度 0.01%、方阻基本准确度 1% 并列出现，几处数值对应的测量项目与量程并未在文中逐项对应说明。本文按原资料分别保留，未作合并或改写。实际使用时，建议按被测项目所处的量程档与随机文件中的准确度等级说明核对，以铭牌与出厂测试报告所列参数为准。

  资料给出了一组同系列两种配置的对照。数据显示方式与量程档位方面，本机型为四位半显示读数、十量程手动测试，量程档位依次为 20mΩ、200mΩ、2000mΩ、20Ω、200Ω、2000Ω、20kΩ、200kΩ、2000KΩ、10MΩ；对照机型为 2000mΩ、20Ω、200Ω、2000Ω、20kΩ、200kΩ，两端的小电阻档与高阻档没有覆盖。

  自动测试方面，本机型可以实现 HIGH／IN／LOW 分选，对照机型没有这一项。显示语言方面，本机型支持中英文切换，对照机型只有英文界面。校准功能方面，本机型可手动或自动选择测试量程，并支持全量程自动清零，对照机型没有这两项。其他功能方面，本机型自动进行电流换向，并进行正反向电流下的电阻率（或方块电阻）测量、显示平均值，测薄片时可自动进行厚度修正，对照机型同样没有这一项。

  测量精度的差异也体现在整机指标上：本机型的整机测量相对误差为 ≤±1%，整机不确定度为 ≤±1%；对照机型的对应数值分别为 ≤±3% 与 ≤±3%。测量范围方面，本机型的电阻测量范围为 10⁻⁷Ω～10⁸Ω、方阻测量范围为 10⁻⁷Ω/□～10⁸Ω/□；对照机型的电阻测量范围为 10⁻⁵Ω～10⁵Ω、方阻测量范围为 10⁻⁴Ω/□～10⁵Ω/□。从这组对照可以看出，漆包线类的低阻试样以及导电薄膜类的中低阻试样，量程下探能力与有效位数是本机型与对照机型拉开差距的地方。选型时可以先确定被测对象的电阻量级，再核对量程覆盖与准确度是否够用，避免出现量程够但读数位数不足、或者精度够但量程覆盖不到的情况。

  开尔文测试夹用于漆包线导体、电阻器直流电阻这类需要四端接线的测量。夹持时要注意两个触点各自压在被测导体的同一段上、彼此绝缘，接触面要避开漆膜残留、氧化层与油污；漆包线要先按标准规定的方法去除漆膜，去漆过程不能伤及导体截面，否则截面积缩小会把电阻测高。试样长度的测量要沿着导体走线方向量准，长度误差会按比例进入电阻结果。

  四探针治具用于片状或者块状材料。资料写明，本仪器可以用四探针治具测试片状或块状半导体材料、金属涂层以及导电薄膜等材料的电阻和电阻率。探针有直排和矩形两种形式可选。直排四探针适合规则片料，探针间距固定、换算关系明确；矩形探头适合需要按特定方向布置、或者试样形状不方便直排布置的场合。测量前要确认探针间距与实际选用的换算公式对应，探针压力要均匀一致，四根探针都要可靠落在材料表面，任何一根探针虚接都会让读数明显偏离。

  测试台与屏蔽也是配置的一部分。资料提到本仪器可配合多种探头进行测试，也可配合多种测试台进行测试。测试台的作用在于把试样固定、让探针定位一致，从而保证同批试样之间具有可比性；在测量高阻值试样或者环境电磁干扰较强的车间里，还要注意测试线走向、接地方式与屏蔽措施，避免引入工频干扰。校准用的标准电阻与随机的出厂测试报告应妥善保存，作为后续核查仪器状态的参照。

  步骤一，确认被测对象的类型与量级。测漆包线导体直流电阻，用开尔文测试夹；测半导体片料、金属涂层、导电薄膜的电阻与电阻率，用四探针治具。先大致判断被测值落在哪个量程档，再决定接线方式。

  步骤二，做好试样准备。漆包线按规定剥除漆膜、露出洁净导体，避免伤及截面；片料与薄膜试样要平整、表面清洁，必要时按标准要求做前处理；需要测电阻率的试样要先量准厚度。

  步骤三，接通电源并预热。资料标明供电为 110V~240V 双模式，电源频率 47Hz~63Hz，功耗 50W，接入前应确认现场供电规格与设备要求一致。开机后让设备预热一段时间，待读数稳定再进入正式测量。

  步骤四，选择量程与清零。可手动选择量程，也可由设备自动选择；按全量程自动清零的要求先把测试线路与夹具的残余量清零，之后接好试样。

  步骤五，按顺序接通恒流源。先把探针头或者测试夹可靠压触在被测材料或导体上，之后打开恒流源开关，避免接触瞬间打火。若被测件不敏感，恒流源开关可以保持在开的状态，以提高工作效率。

  步骤六，读取并核对显示值。屏幕上可同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值与温度，按需要读取对应参数；启用电流换向时，结果显示的是正反向电流下两次测量的平均值。

  步骤七，换算与修正。需要折算到 20℃ 的，按铜或者铝对应的温度折算关系处理，并结合设备的温度补偿功能；测薄片需要电阻率的，确认厚度预设值正确，由设备完成厚度修正。

  步骤八，判定与输出。用三档分选功能对被测件做超上限、合格、超下限的判断，可直接看面板判断灯，也可以通过 USB 接口、RS232 接口把详细分选结果输出到上位机或者产线系统。

  步骤九，记录数据。单机模式下按批次手工记录；需要保存与追溯的，按选配软件的要求连接电脑，由软件记录、保存各点测试数据并做分析。

  步骤十，测量结束与收尾。先关闭恒流源开关，再取下试样，之后按需要清零或者关机；对同一试样需要复测的，等读数稳定并确认试样温度已回到与环境接近的状态再测。

  温度是其中影响较为直接的一项。导体电阻随温度上升而增大，铜约每摄氏度 0.39%，一节漆包线试样若在夏季车间环境下测量而不折算，结果与 20℃ 基准值之间的差异会超出仪器误差本身。规范的做法是记录测量时的温度、使用设备的温度补偿功能，并按标准要求折算。刚下线的漆包线或者刚绕制完成的线圈往往还带有余温，这时测出的电阻偏低，应该等试样温度稳定后再测。

  接触电阻与探针压力同样关键。四端接线能排除接触电阻的影响，但前提是电压端接触可靠。夹子或者探针上有氧化层、漆膜残留、油污，电压取样路上就可能出现断续接触，读数会跳动或者偏大。探针压力要均匀，压力过小接触不稳，压力过大在软质材料上会压出凹痕，改变局部厚度与电流分布。

  探针间距与试样厚度决定换算的准确性。方阻与电阻率的换算公式都以确定的探针间距和厚度为前提，间距用错或者厚度量错，算出的电阻率就会整体偏离。薄膜试样还要注意是否背面导电、是否有均匀性差异，必要时多点测量取平均。

  电流换向与恒流源的稳定性也要留意。启用换向测量可以得到正反向电流下的平均值，前提是两次测量的接触状态没有变化；测量过程中移动了试样或者触碰了测试线，平均值就失去了意义。恒流源的电流量程为 DC100mA-1A，测量时选用的电流大小应与试样截面积、允许的功耗相匹配，电流偏大会让试样发热，读数随时间漂移。

  此外还有电磁干扰、接地与测试线布置。车间的变频设备、大功率电机启停都会产生干扰，测试线过长、走线随意、接地混乱也会引入噪声。在测量高阻试样或者要求高分辨率的场合，要注意缩短测试线、固定走线路径、保持设备与工装接地良好。

  日常保养的重心在夹具与探头。开尔文夹的触点要定期清洁，去除氧化层与残胶，夹持力减弱时要及时更换或者调整；四探针的探针尖要保持清洁、平齐，出现磨损、弯曲或者某一根明显比其余短的，应及时处理，避免因为单根探针接触不良造成测量偏差。每次测量结束把探针与夹子归位，避免碰撞与挤压。

  测试线要定期检查。测试线在使用中容易弯折，内部断股会造成接触电阻不稳定，表现是读数时好时坏。发现测试线外皮破损、接头松动时应更换，不要用胶带临时包扎后继续用于高精度测量。接口部位要保持清洁干燥，插拔时按接口形式正确操作，不要用力过猛。

  设备本体要保持通风与清洁。供电为 110V~240V 双模式，电源频率 47Hz~63Hz，功耗 50W，工作时会有一定温升，机身后侧的散热部位不要堆放物品。设备应放置在干燥、少尘、远离强振动与强电磁干扰的台面上，长期不用时按随机文件要求存放。

  数据与设置要留档。自校准时使用的标准电阻、出厂测试报告、日常的核查记录，建议按周期整理保存；设备的校准周期与内部核查方式按随机文件规定执行。精度保证期与后续的计量送检安排，也应在使用台账中登记，便于在出现数据争议时追溯。

  漆包线生产企业的出厂检验与过程抽检。按批、按盘抽查导体直流电阻，结合线径与外观检验判断拉丝与退火工序是否稳定，对不合格批次及时拦截。

  电机、变压器、电感与继电器企业的进厂原材料验收。对进厂的漆包线按批抽测导体电阻，核对与供货方声称值是否一致；对绕制完成的绕组与线圈测直流电阻，用于判断焊接质量与匝数是否符合设计。

  电磁线与绕组线相关行业。绕包线、丝包线、复合线材的导体电阻检测，以及各类特种绕组线的电阻试验，都可以用开尔文测试方式完成。

  导电薄膜、金属涂层与其他功能材料。用四探针方式测试片状或者块状材料的电阻与电阻率，覆盖导电薄膜、金属涂层、半导体片料等对象；金属化薄膜、导电浆料涂布层也属于这类测量范围。

  半导体材料与器件前期研究。硅、锗单晶及硅片的电阻率测量，按直流四探针法的要求组织试验，本机的电阻率范围 10⁻⁷Ω～10⁸Ω 与方阻范围 10⁻⁷Ω/□～10⁸Ω/□ 能够覆盖这类试样的常见量级。

  科研院所与第三方检测机构。用于材料性能对比、科研数据积累与标准符合性检验。资料中提到本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要工具，这几种场合的测量需求都可以覆盖。

  从测量方式看，四端与四探针这类消除接触影响的方法已经成为高精度电阻测量的基本配置，后续的改进方向集中在自动化程度上。电流换向、量程自动切换、全量程自动清零、厚度自动修正这些功能，目的都是把容易出错的环节交给设备完成，减少人工干预带来的离散。

  从数据处理看，设备与信息系统的连接越来越紧。标配的 RS232、LAN、IO 通讯接口与 USB 输出，让测量结果可以直接进入产线的数据系统或者实验记录系统，配合选配软件实现记录、保存与分析。这样一来，单点测量就变成了可追溯的数据流，为批次质量分析、工艺参数优化提供了基础。

  从应用范围看，一台设备兼顾低阻导体与中高阻薄膜的趋势比较明显。量程从微欧级下探到 10⁻⁷Ω，上探到 10⁸Ω，量程档位覆盖从 20mΩ 到 10MΩ，同一台仪器既能测漆包线导体这类低阻对象，也能测导电薄膜的方阻，减少了工位上仪器的种类。对于需要同时处理多种材料的企业，这种兼顾能力意味着更少的设备投入与更简单的人员培训。

  从准确性看，不确定度的表述越来越受重视。除了准确度这一项，整机测量标准不确定度的给出让用户能更清楚地了解数据的可靠程度。本机型在整机测量相对误差与不确定度两项上都给出了 ≤±1% 的指标，在要出示检测报告或者做批次判定时，这类表述比单一的精度数字更有参考价值。

  漆包线的导体电阻是一项贯穿原材料、生产过程与成品验收的基础指标。它反映的是整段导体的综合状况，单靠线径与外观很难看出问题。要把这项指标测准，需要设备在量程、分辨率、接线方式与温度修正几个维度同时到位。

  这台 BEST-300C 以双电测原理与四端、四探针两类测量方式为基础，电阻精度 0.01%、分辨率 0.1uΩ，电阻基本准确度 0.01%、方阻基本准确度 1%、电阻率基本准确度 1%，整机测量相对误差与标准不确定度都给出 ≤±1% 的指标；测量范围覆盖电阻 10⁻⁷Ω～10⁸Ω 与方阻 10⁻⁷Ω/□～10⁸Ω/□，十量程手动测试从 20mΩ 到 10MΩ，配有恒流源开关保护被测件，支持电流换向与厚度修正、温度补偿、三档分选与中英文界面，并通过 RS232、LAN、IO、通讯接口与上位机连接。用开尔文测试夹测漆包线导体与电阻器的直流电阻，用四探针治具测半导体材料、金属涂层与导电薄膜的电阻和电阻率，一台设备能覆盖几类不同的测量任务。

  对于漆包线的生产与使用单位，把直流电阻这项指标纳入常规检验，配合线径、漆膜厚度与击穿电压等项目的检测，形成完整的材料评价链条，比单看某一项数据更能反映材料与工艺的实际状态。设备提供的是数据，数据如何用、按什么周期用、与哪些项目一起用，才是质量控制中真正需要安排的部分。